最近，小編收到一位電子行業(yè)客戶的咨詢，拉力試驗機能不能進行IC 封裝的微壓縮和多點壓縮測試？為了解決客戶的測試需求，科準為其定制了一套技術方案，內(nèi)含檢測方法。

隨著電子設備的不斷發(fā)展和智能化程度的提高，集成電路（IC）的封裝技術也日益趨向于小型化和高密度化。然而，這種封裝技術的進步也帶來了新的挑戰(zhàn)，其中之一就是如何確保IC封裝在面對各種環(huán)境條件下能夠保持穩(wěn)定性和可靠性。

壓縮測試是一種通過施加壓力來模擬實際應用場景下IC封裝可能面對的各種機械應力的方法。在本文中，科準測控小編將深入探討IC封裝的壓縮測試，包括測試方法、參數(shù)選擇以及結果分析等方面。

一、測試原理

IC封裝的壓縮測試利用施加壓力的方法模擬實際使用環(huán)境下的機械應力，以評估封裝在壓縮條件下的性能特征和可靠性表現(xiàn)，從而提前發(fā)現(xiàn)潛在的結構問題或設計缺陷。

二、測試儀器

1、單柱拉力試驗機

（示意圖：拉力試驗機可搭配不同夾具做不同力學試驗）

2、微壓縮夾具和壓板位移夾具

微壓縮夾具對整個封裝或芯片進行壓縮，壓板位移夾具執(zhí)行接觸式測量

三、測試流程

步驟一、準備測試樣品

確保芯片或組件的表面清潔，并根據(jù)需要進行適當?shù)念A處理。

定位待測試的芯片或組件，確保其位于夾具的適當位置。

步驟二、設置測試參數(shù)

針對待測試樣品的尺寸和特性，調(diào)整單柱拉力試驗機和微壓縮夾具的參數(shù)，如壓縮力、壓板位移速度等。

步驟三、執(zhí)行微壓縮測試

使用微壓縮夾具對整個封裝或芯片進行壓縮。

通過壓板位移夾具執(zhí)行接觸式測量，記錄測試過程中的位移和偏轉(zhuǎn)等數(shù)據(jù)。

步驟四、多點測試

在芯片或組件的多個點上執(zhí)行微壓縮測試，以獲取更全面的數(shù)據(jù)。

切換不同類型的探頭，根據(jù)需要開發(fā)用于執(zhí)行基于點的壓縮測試。

步驟五、數(shù)據(jù)記錄和分析

記錄測試過程中的各項參數(shù)和數(shù)據(jù)，包括壓縮力、位移、偏轉(zhuǎn)等。

進行數(shù)據(jù)分析，評估樣品在壓縮條件下的性能和可靠性。

步驟六、校正和調(diào)整

執(zhí)行例程，消除機器、稱重傳感器和夾具的任何系統(tǒng)合規(guī)性或差異，確保測試結果的準確性和可重復性。

以上就是小編介紹的IC 封裝的壓縮測試的內(nèi)容了，希望可以帶來幫助！如果您還想了解更多關于IC封裝測試流程和測試設備，單柱拉力試驗機組成、聯(lián)板高度如何調(diào)整、測試視頻、價格和作業(yè)指導書等問題，歡迎您關注我們，也可以給我們私信和留言，科準測控技術團隊為您免費解答！